Fluorescenza X (EDXRF)

L’EDXRF è un metodo ben conosciuto in archeometria poiché è non distruttivo, multielementale e relativamente economico. La tecnica è basata sull’irraggiamento di una opera pittorica con raggi X e sulla misurazione dell’energia dei raggi X secondari emessi dal campione stesso.

L’energia dei raggi X secondari (detti anche caratteristici) è legata infatti agli elementi chimici presenti nel campione analizzato e la loro intensità è proporzionale alla quantità dell’elemento sotto esame.

Gli accertamenti possono essere preliminari o di ausilio ad una operazione di restauro, tuttavia questo metodo totalmente non distruttivo può essere applicato a semplice scopo conoscitivo prescindendo dal tipo di intervento. Questa tecnica può essere utilizzata, inoltre, non solo per i dipinti su tela, ma anche nella determinazione dei pigmenti utilizzati per i dipinti su tavole, ad affresco, su ceramiche e colorazioni di vetri.

L’identificazione di pigmenti impiegati nei lavori d’arte è di grande importanza per l’archeometria, la storia dell’arte e per il restauro dell’oggetto. La conoscenza dei materiali utilizzati può, per esempio, gettare luce sulle origini del dipinto, aiutare nel lavoro di datazione o nell’attribuzione dell’autore tramite la sua tavolozza dei colori, dare risultati essenziali per la scelta di materiali moderni compatibili nell’azione di restauro.

La sensibilità moderna nei confronti dei Beni Culturali ha spinto alla specializzazione di alcune tecniche totalmente non distruttive, tra le quali c’è certamente la Fluorescenza X. La Fluorescenza X infatti permette una identificazione veloce e precisa degli elementi che caratterizzano i pigmenti di origine inorganica ed un’analisi qualitativa delle zone analizzate. La tecnica consente l’individuazione degli elementi chimici presenti, ma non dei composti chimici a cui questi elementi appartengono. La maggior parte dei pigmenti sono però caratterizzati dalla presenza di uno o più elementi per cui non risulta quasi mai necessario utilizzare altre tecniche per la maggior parte distruttive per approfondire le analisi.

La capacità di penetrazione dei raggi X è generalmente molto bassa, ma nel caso dei dipinti questa penetrazione è certamente maggiore di una pellicola pittorica e, quindi, le informazioni ottenute non riguardano solamente lo strato più superficiale della porzione esaminata, ma si estendono anche agli strati inferiori raggiungendo anche il supporto del dipinto stesso.

Un sistema portatile di Fluorescenza X può essere, inoltre, trasportato nel luogo in cui l'opera d'arte è conservata senza che sia necessario il trasferimento della stessa in ambienti che possano lederne l’integrità.

Un tipico strumento di analisi con EDXRF è composto da un tubo emettitore di radiazione X, un rivelatore, un multicanale ed un computer. Il tubo miniaturizzato, il piccolo rivelatore termoelettricamente raffreddato ed il computer portatile permettono di definire la strumentazione utilizzata come portatile. Attraverso un puntatore a diodo laser è possibile centrare superfici di pochi millimetri quadrati e quindi fare misure molto selettive.

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